IV Międzynarodowa Warszawska Wystawa Innowacji IWIS 2010 Drukuj

Organizatorem już kolejnej edycji  Międzynarodowej Warszawskiej Wystawy Innowacji IWIS 2010 jest Stowarzyszenie Polskich Wynalazców i Racjonalizatorów (SPWiR). Wystawa służy promocji polskich wynalazków i pomaga w zawieraniu nowych kontaktów biznesowych.  Od 1990 roku SPWiR zaprezentowało na międzynarodowych wystawach ponad 2 tysiące polskich innowacyjnych rozwiązań techniczno-technologicznych na kilkudziesięciu wystawach na czterech kontynentach. Tegoroczna Wystawa IWIS  odbyła się  w dniach 20-22 października 2010 r. w hotelu Gromada w Warszawie pod Honorowym Patronatem Prezydenta Rzeczypospolitej Polskiej Bronisława Komorowskiego. Patronatu Wystawie  udzieliły również Światowa Organizacja Własności Intelektualnej z siedzibą w Genewie i Światowa Federacja Stowarzyszeń Wynalazczych IFIA z siedzibą w Budapeszcie.  Najlepsze wynalazki decyzją międzynarodowego jury zostały nagrodzone medalami złotymi z wyróżnieniem, złotymi, srebrnymi i brązowymi oraz otrzymały specjalne wyróżnienia. 

CBK zaprezentowało na Wystawie pięć rozwiązań za, które otrzymało następujące nagrody:

Złoty medal z wyróżnieniem:

-Samo wbijające się wielofunkcyjne urządzenie do głębokich badań podpowierzchniowych KRET ( doc. dr hab. Marek Banaszkiewicz, dr inż. Jerzy Grygorczuk,  dr inż. Karol Seweryn i dr inż. Roman Wawrzaszek)

Złoty medal:

- Dipolowa antena do pomiaru trzech składowych pola elektromagnetycznego (mgr Marek Morawski wraz z zespołem),

- Wielofunkcyjne urządzenie do płytkich badań podpowierzchniowych MUPUS (doc. dr hab. Marek Banaszkiewicz, dr M. Hłond, mgr inż. S. Gadomski, dr inż. Jerzy Grygorczuk, inż. J. Krasowski, dr W. Marczewski, prof. T. Spohn),

- Zespół cyfrowy sterowania zasilacza lokalnego oscylatora heterodynowego instrumentu HIFI (dr inż. Piotr Orleański wraz z zespołem).

Srebrny medal:

- System wyznaczania kierunku pomiaru spektrometru obrazującego (dr inż. Mirosław Rataj wraz z zespołem).

Poprawiony: wtorek, 23 listopada 2010 13:01